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鉀長石成份分析標準物質
本標準物質用于校正分析儀器,檢驗分析基體相類似的鉀長石或其它物質時所用方法的可靠性和數據的準確性。
一、制備方法
樣品經過粉碎,高鋁瓷球磨機研磨,混勻(粒度小于200目占99.84%),裝瓶,均勻性檢驗,分析測試,定值,數據匯總統計處理。
二、標準值及標準偏差
項目 |
成份(%) |
||||||||
SiO2 |
AI2O3 |
Fe2O3 |
TiO2 |
CaO |
MgO |
K2O |
Na2O |
L.O.I |
|
標準值 |
66.26 |
18.63 |
0.19 |
0.048 |
0.76 |
0.054 |
9.60 |
3.69 |
0.86 |
標準偏差(S) |
0.15 |
0.15 |
0.02 |
0.007 |
0.06 |
0.011 |
0.11 |
0.11 |
0.06 |
三、分析方法
成份 |
分析方法 |
|||
SiO2 |
COL GR ICP VOL XRF |
|||
AI2O3 |
COL GR ICP VOL XRF |
|||
Fe2O3 |
AAS COL ICP VOL XRF |
|||
TiO2 |
COL ICP XRF |
|||
CaO |
AAS GR ICP VOL XRF |
|||
MgO |
AAS ICP XRF |
|||
K2O |
AAS FP ICP XRF |
|||
Na2O |
AAS FP ICP XRF |
|||
L.O.I. |
GR 試樣在1000°C灼燒 |
|||
注: |
AAS 原子吸收分光光度法 |
|||
COL 比色分析法 |
||||
FP 火焰光度法 |
||||
GR 重量分析法 |
||||
ICP 等離子體發射光譜法 |
||||
VOL 容量分析法 |
||||
XRF X-射線熒光光譜法 |
||||
|
分析前,樣品需經105-110°C烘干2h。 |
四、均勻性和穩定性檢驗
樣品以分裝的最小單元數N為基數,按2×3√n計算,隨機取樣進行均勻性檢驗,利用方差(F)檢驗法,其結果F<Fα。樣品是均勻的,測定時最小稱樣量為0.1g。
在同一年測定了樣品的穩定性。以后每年檢查一次,如果數據發生變化,隨時報告。
五、包裝、貯存
本標準物質包裝在塑料瓶中,50g/瓶。樣品保存在陰涼、干燥處。
注:證書信息僅供參考,以產品附帶證書為準。
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