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硼硅酸鹽玻璃成份分析標準物質
本標準物質用于校正分析儀器,校驗分析基體相類似的硼硅酸鹽玻璃或其它物質時所用方法的可靠性和數據的準確性,以及質量認證。它可作為量值傳遞和仲裁分析的依據。
一、制備方法
樣品經過水淬,粉碎,高鋁瓷球磨機研磨,混勻(粒度小于0.074mm占99.25%),裝瓶,均勻性檢驗。
二、標準值及不確定度
項目 | 成份(%) | ||||||||||
SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | TiO2 | CaO | MgO | K2O | Na2O | B2O3 | F | L.O.I. | |
標準值 | 53.98 | 14.50 | 0.34 | 0.19 | 16.54 | 4.40 | 0.59 | 0.096 | 8.87 | 0.54 | 0.26 |
標準偏差(S) | 0.14 | 0.12 | 0.01 | 0.02 | 0.09 | 0.12 | 0.04 | 0.011 | 0.11 | 0.04 | 0.04 |
數據組數(N) | 10 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 9 | 8 | 9 |
三、分析方法
成份 | 分析方法 |
SiO2 | COL、GR、VOL、XRF |
Al2O3 | VOL、XRF |
Fe2O3 | AAS 、COL、ICP、XRF |
TiO2 | COL、ICP、XRF |
CaO | AAS 、ICP、VOL、XRF |
MgO | AAS 、ICP、VOL、XRF |
K2O | AAS 、FP、ICP、XRF |
Na2O | AAS 、FP、ICP、XRF |
B2O3 | ICP、VOL |
F | COL、IC |
L.O.I. | GR樣品 在550℃灼燒 |
注:AAS原子吸收分光光度法
FP火焰光度法
GR重量分析法
IC離子選擇電極法
ICP等離子體 發射光譜法
VOL容量分 析法
XRF X-射線熒 光光譜法
分析前,樣品需在105~110℃烘干2小時。
四、均勻性和穩定性檢驗
樣品以分裝的最小單元數N為基數,按計算,隨機取樣,采用X射線熒光光譜分析方法和化學分析方法對樣品中的SiO2、Al2O、B2O3、CaO、Na2O進行了均勻性檢驗,證明均勻性良好。最小稱樣量為0.1g。
在一年間測定了樣品的穩定性,穩定性好。以后定期檢查,如果數據發生變化,將隨時通知用戶。
五、包裝、貯存
本標準物質包裝在玻璃瓶中,每瓶50克。樣品保存在陰涼、干燥處。
注:證書信息僅供參考,以產品附帶證書為準。
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